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SRM 3600 X射線散射校準 NIST標準物質

發布時間: 2022-04-30  點擊次數: 790次

SRM 3600 X射線散射校準 NIST標準物質

       SRM 3600旨在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準。 SAXS 測量表征了異質材料系統的微觀結構和納米結構:特別是微米級和納米級特征的尺寸分布,以及通過散射強度校準,它們的體積分數或數量濃度,以及它們的表面積 。 SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

品牌:NIST標準物質

SRM Number(貨號):SRM 3600

Description:Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

描述:X射線散射校準

Unit of Issue(產品規格):coupon


SRM 3600 X射線散射校準 NIST標準物質

        儲存方法:SRM 3600 應在干燥的環境條件下存放在提供的塑料膜盒內,遠離過多的水分或熱量(最高 60 °C)。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在長時間校準時保持穩定,在這些儲存條件下具有無限的保質期。

        使用方法:要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統 SAXS 儀器為“未知"樣品提供 SAXS 強度校準,必須遵循幾個步驟。根據需要使用衰減器保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響(空白、樣品和標準品的衰減相同),測量樣品 TS 和標準品 TSTD 相對于入射光束的透射率(空白)在 Q = 0 時測量的強度,其中 Q = (4π/λ)sinθ,λ 是 X 射線波長,θ 是散射角的一半 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后,用一個光束擋板保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響,在相同條件下對“未知"樣品、空白(不存在樣品)和電子背景(X 射線)進行 SAXS 測量光束關閉)和 SRM 3600 標準試樣。將每個 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度,然后減去每個像素的電子背景。對于樣品和標準品,分別減去每個 PSD 像素的空白散射,分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置(Q = 0 的位置)對 2D PSD 數據進行循環平均,并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標準厚度 τSor τSTD。請注意,對于 SRM 3600,應使用 τSTD = 1.055 mm

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部分NIST標準物質產品列表(因篇幅有限,僅列舉極小部分):

SRM 3074

5 x 1.2 mL

鄰苯二甲酸酯

SRM 3222

20   x 10 g

香煙煙草填料標準物質

SRM 2583

8g

室內粉塵中的微量元素(標稱質量分數90mg/kg鉛)

SRM 2452

10   g

鈦合金中的氫(H標稱質量分數60mg/kg)

RM 8610

4   x 5 mL

UM-Almaden汞同位素

SRM 1967a

0.51   x 1 m platinum wire

高純度鉑金熱電偶

SRM 2976

25   g

貽貝組織中的微量元素和甲基汞

SRM 610

4   wafers 4張

晶圓標準物質(玻璃中的微量元素)

SRM 1729

disk

錫合金

RM 8988

6   g

二氧化鈦粉末

SRM 1634c

100   mL

燃油中的微量元素標準物質

RM 8666

5   x 3 g

生姜提取物